When testing multi-diode devices, such as pin grid arrays or DIP packages, switching is required to connect a single source-measure instrument to each individual diode.

　
英 美
  • 在測試多二極管裝置時(shí)，例如針柵陣列矩陣或DIP封裝器件，需要開(kāi)關(guān)來(lái)將源測量?jì)x器連接到每個(gè)二極管。
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