Utilizing the techniques such as X-Ray diffraction, Raman spectra, Comprehensive thermal analysis, SEM, EPMA, UV-Vis-Near IR and FTIR, and etc.
英
美
- 本文利用金相顯微鏡、X-射線(xiàn)衍射譜、拉曼散射譜、綜合熱分析、電子探針?lè )治?、紫?可見(jiàn)-近紅外光譜和紅外光譜等技術(shù)對兩個(gè)準三元體系GeS_2-Ga_2S_3-CdI_2、GeS_2-Ga_2S_3-PbI_2的組成、結構與性能關(guān)系進(jìn)行了深入研究和分析,獲得了下述主要結論:
