This article discusses how to generate robust tests for path delay faults by improving the matured test generation algorithm for stuck at faults, according to the characteristics of path delay faults.

　
英 美
  • 探討如何利用針對固定型故障測試產(chǎn)生的比較成熟的算法，結合時(shí)滯故障的特點(diǎn)，進(jìn)行路徑時(shí)滯故障的強健測試產(chǎn)生。
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