This allows utilizing combined SFM/SNOM probes in the contact mode where simultaneously the topography, the friction force and the optical transmission image of the sample are recorded.

 
  • 在接觸模式中利用這種SFM/SNOM組合探針可將樣品的形貌像、摩擦力和光學(xué)透射像等信息同時(shí)記錄下來(lái)。對于綜合研究樣品表面的介觀(guān)性質(zhì)十分有利。
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