This active low input is sampled simultaneously with the data during accesses on the memory bus. If asserted, a memory error will be generated.

 
  • 在對內存總線(xiàn)訪(fǎng)問(wèn)的同時(shí)進(jìn)行采樣,當為低電平時(shí),表示產(chǎn)生一個(gè)內存錯誤。
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