There are many testing points and user inputs which make the chip design debugging and testing too easy in our system.

　
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  • 同時(shí)開(kāi)發(fā)系統采用了多種配置方式，可調時(shí)鐘輸入，增加測試點(diǎn)、指示燈和用戶(hù)輸入等等面向芯片設計的設計策略，為芯片調試與測試提供了方便。
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