The structure of Dunlop sample was looked on as the exact graphic layer plane, the structures of Goodrich and cloth precursor C/C composites can be measured.

　
英 美
  • 結果表明,在不同熱處理溫度下炭布預制體C/C復合材料的微晶層間距隨石墨化溫度的升高,層間距變小。 通過(guò)透射電鏡和選區電子衍射,研究了不同樣品中基體炭的精細結構。
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