The sequence continues for all DUTs. Of course, after each measurement, probes must be connected to another device on the wafer and the detector positioned over that device.

 
  • 對所有的DUT執行以上步驟。當然,在每次測量后,探針必須連接到晶圓上的另一個(gè)器件,并且探測器定位于器件的上方。
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