The result shows that the plastic strain at the heel region induced by wire bonding process, molding process and the thermal stress and strain in solder reflow are the main causes of heel crack.

 
  • 結果顯示由于引線(xiàn)鍵合工藝、注塑工藝以及回流焊中封裝體各部分不同的熱膨脹系數引起的熱應力和塑性變形是產(chǎn)生引腳跟斷裂的主要因素。
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