The nano dots fabrication tests of Au film and single-crystal silicon were performed in air using scanning tunneling microscope(STM).

 
  • 研究了大氣狀態(tài)下應用掃描隧道顯微鏡(STM)對金薄膜和單晶硅材料進(jìn)行了納米級電場(chǎng)加工實(shí)驗。
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