The growth was monitored in-situ by reflection high-energy electron diffraction(RHEED).

 
  • 在超晶格薄膜生長(cháng)過(guò)程中采用反射高能電子衍射(RHEED)對LaAlO3/BaTiO3/SrTiO3超晶格的生長(cháng)過(guò)程進(jìn)行了分析。
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