The clear and bright streak lines in RHEED patterns proved the epitaxial growth of LAO/BTO superlattices, and a series of satellite peaks in XRD patterns showed the formation of multilayer structure.
英
美
- 由于超晶格薄膜的性能決定于生長(cháng)和結構,因此,在薄膜生長(cháng)過(guò)程中,我們首先利用高能電子衍射技術(shù)(RHEED)對LAO/BTO 超晶格薄膜的生長(cháng)進(jìn)行研究,然后再利用X 射線(xiàn)衍射技術(shù)對其結構進(jìn)行分析。
