The anodizing process and anodic aluminum oxide (AAO) films were characterized by means of Voltage-time curves, SEM, EDAX, XRD and electrolyte capacitor model.

　
英 美
  • 本文利用陽(yáng)極氧化的電壓-時(shí)間曲線(xiàn)、掃描電子顯微鏡、能量色散X射線(xiàn)譜、X射線(xiàn)粉末衍射儀、電容器模型等儀器對氧化過(guò)程及氧化膜進(jìn)行表征。
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