The analysis to optical constant and film thickness also show that the ellipsometry is effective for multi-layer thin films analysis.

 
  • 對多層膜厚度和光學(xué)常數的分析表明,橢偏法仍然是一種行之有效的薄膜光學(xué)常數測量方法。
今日熱詞
目錄 附錄 查詞歷史
国内精品美女A∨在线播放xuan