Testing Costs

　
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  • 測試代價(jià)

Testing Costs的用法和樣例：

例句

  1. The generation of a sort of uniform AMS IC DFT technique with low test cost and high fault coverage will meet the need of further development on IC design.
    統一的低測試代價(jià)和高故障覆蓋率的模擬及混合信號芯片可測性設計方法的產(chǎn)生對于芯片設計來(lái)說(shuō)將是進(jìn)一步發(fā)展的要求和保障。

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