Study on nano-meter scale observation of latent tracks induced by ions are discussed using scanning tunneling microscopy(STM) and scanning force microscopy(SFM).

 
  • 綜述了近年來(lái)用掃描隧道顯微鏡(STM)和掃描力顯微鏡(SFM)在原子水平上觀(guān)測輻射損傷潛徑跡的研究及進(jìn)展。
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