Objective To design leaf patterns for Multileaf Collimator(MLC) ro utine quality assurance(QA) with a 2D diode array.

 
  • 目的 建立利用半導體探測器陣列檢測多葉準直器(MLC)葉片定位誤差的方法,用 于MLC的日常質(zhì)量保證。
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