Microstructure observing and phase analysis of boronizing layer are finished through Olympus(BH-2) microscope, QUANTA-200 SEM, JSM-6700F SEM, HV-1000 microhardometer.

　
英 美
  • 利用OLYMPUS(BH-2)金相顯微鏡、QUANTA-200型掃描電鏡、JSM-6700F型掃描電鏡、Hv-1000顯微硬度計，對滲硼層進(jìn)行組織觀(guān)察和相分析以及測試滲硼層顯微硬度。
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