Magohov, S. N., Whangbo, M. H., Surface Analysis with STEM and AFM: Experimental and Theoretical Aspects of Image Analysis, VCH, Weinheim (1996).

 
  • 林鶴南,李龍正,劉克迅,"原子力顯微術(shù)及其在半導體研究上之應用,"科儀新知,第17卷第3期,第29頁(yè)(1995).
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