In this paper,a design concept of the planar testboard is proposed to solve the problem of RFID tag antenna testing.

　
英 美
  • 針對RFID標簽天線(xiàn)性能參數測試困難的問(wèn)題,提出了平面結構的天線(xiàn)測試架的構想,設計并制作了一個(gè)實(shí)際的測試架。
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