In examining samples, we measured composition and bonding by Chemical analyzer and Raman spectrum, and measured surface by Atomic Force Microscope.

 
  • 在試片的檢測部份,我們利用了化學(xué)分析電子儀及拉曼光譜儀分析薄膜之元素組成及其鍵結,并且用原子力顯微鏡觀(guān)察其表面形貌。
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