For substituting the test vectors generated by the circuit under test for the pseudo-random vectors supplied by a LFSR,this paper proposes an ATPG algorithm based on genetic algorithm.

 
  • 本文針對由被測電路自己產(chǎn)生測試向量取代LFSR偽隨機向量,提出一種基于遺傳算法的自動(dòng)測試向量生成算法。
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