Experiments on ISCAS circuits show that, compared with the pseudo random BIST, SWR-BIST effectively reduces the test power by 74%.

 
  • 在ISCAS電路上實(shí)驗的結果,相較于傳統自我測試技術(shù),區段加權亂數自我測試技術(shù)可以減少74%25的功率消耗。
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