Electromigration could induce the movement of atoms/ions towards the direction of electron flow in pure metal line in chips.

 
  • 摘要電遷移可以引發(fā)芯片內部互連金屬引線(xiàn)(單一元素)中的原子或離子沿電子運動(dòng)方向移動(dòng)。
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