Characterization on the morphology, particle size and spectrum properties have been done with TEM, UV-vis absorption spectrometer, and Photoluminescence spectra. 2.

 
  • 利用紫外-可見(jiàn)(UV-vis)吸收光譜、熒光發(fā)射(PL)光譜、透射電子顯微鏡(TEM)等表征手段對得到的熒光半導體量子點(diǎn)進(jìn)行形貌、大小、結晶性、光譜特性和成份等進(jìn)行分析。
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