By analyzing the reflectivity spectrum and reflection wave spectrum of thin beds, we put forward a new method for thickness determination of the thin beds.

 
  • 作者通過(guò)研究地層厚度變化對地層本身的反射系數譜及反射波頻譜的影響規律,尋找到了一種新的計算薄層厚度的方法。
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