As the line width of the metal interconnect reduces, the performance of an IC chip can be degraded by interconnect RC delay and power consumption.

 
  • 因此,當導線(xiàn)的線(xiàn)寬逐漸縮小后,晶片的效能將主要受限于后段制程的內連線(xiàn)延遲與耗損。
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