A new testability structure is proposed to design a partial reset flip flop, which makes the method economical in pin, delay, and area overheads.

 
  • 該文提出了一種新的可測試性結構來(lái)設計部分復位觸發(fā)器 ,該方法同時(shí)減小了在管腳、延時(shí)和面積的開(kāi)銷(xiāo)
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