A new method about measurement complex permittivity of dielectric thin film(um) is present in second part.

 
  • 由于目前關(guān)于薄膜態(tài)介質(zhì)在微波段的介電特性的測量體系還未見(jiàn)報道,在第二部分針對薄膜的特點(diǎn)提出了多介質(zhì)微擾法測量薄膜介電特性的新方法;
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